DIN EN 62415-2010 半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC62415-2010);德文版本EN62415-2010
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时间:2024-05-19 07:29:32
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Constantcurrentelectromigrationtest(IEC62415:2010);GermanversionEN62415:2010
【原文标准名称】:半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC62415-2010);德文版本EN62415-2010
【标准号】:DINEN62415-2010
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2010-12
【实施或试行日期】:2010-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Constantcurrentload;Continuouscurrent;Currentdensity;Definitions;Electricconductors;Electriccontacts;Electriccurrent;Electricfields;Electricalengineering;Electromigration;Failure;Ions;Metalbond;Migration;Semiconductordevices;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.恒定电流电迁移试验(IEC62415-2010);德文版本EN62415-2010
【标准号】:DINEN62415-2010
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2010-12
【实施或试行日期】:2010-12-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Constantcurrentload;Continuouscurrent;Currentdensity;Definitions;Electricconductors;Electriccontacts;Electriccurrent;Electricfields;Electricalengineering;Electromigration;Failure;Ions;Metalbond;Migration;Semiconductordevices;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语
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